Výsledky vyhľadávania
Názov Confidence Interval for the Distance of two Micro/Nano Structures and Its Applications in Dimensional Metrology Aut.údaje Gejza Wimmer ... [et al.] Autor Wimmer Gejza 1949- (25%) UMBFP10 - Katedra matematiky
Spoluautori Karovič Karol (25%)
Witkovský Viktor (25%)
Koening Reiner (25%)
Zdroj.dok. Measurement 2011 : proceedings of the 8th international conference on measurement, Smolenice, April 27-30, 2011. S. 80-83. - Bratislava : Slovak Academy of Sciences, 2011 ; Measurement 2011 8th international conference on measurment Poznámka Bibl.: s. 83 Kľúč.slová dĺžkový komparátor konfidenčné intervaly length comparators dimensional metrology confidence intervals Jazyk dok. angličtina Krajina Slovenská republika Systematika 51 Anotácia Navrhnutá je metóda určenia konfidenčných intervalov pre vzdialenosť dvoch mikro/nano štruktúr. Proposed is a method for determining the confidence interval for the distance of two micro/nano structures Kategória publikačnej činnosti AFD Číslo archívnej kópie 20536 Katal.org. BB301 - Univerzitná knižnica Univerzity Mateja Bela v Banskej Bystrici Báza dát xpca - PUBLIKAČNÁ ČINNOSŤ Názov Measurement 2011 Podnázov proceedings of the 8th international conference on measurement, Smolenice, April 27-30, 2011 Korp. Measurement 2011 . 8th international conference on measurment , Smolenice , 27.-30.04.2011 Vyd.údaje Bratislava : Slovak Academy of Sciences , 2011 ISBN 978-80-969-672-4-7 Jazyk dok. angličtina Krajina Slovenská republika Kategória publikačnej činnosti FAI Katal.org. BB301 - Univerzitná knižnica Univerzity Mateja Bela v Banskej Bystrici Báza dát xpca - PUBLIKAČNÁ ČINNOSŤ Odkazy (1) - PUBLIKAČNÁ ČINNOSŤ